系统分析物联网设备天线无需屏蔽箱

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测量带天线的无线设计产品的辐射场型图通常需要一个测试设备机架，但这个系统不需要电波暗室只要在中等大小的房间就能进行。辐射场型图表述了特定天线及其相关无线电路可能的覆盖面，但产生这样的场型图很难。他们通常由测试信号发生器、接收器、宽带接收天线产生，还有许多必备的测试附件如在测试中让被测物转动的转台。另一种相对常见而不便宜的测试系统附件是暗室，它防止在感兴趣的频段出现射频干扰。

工程师探讨：天线的一致性、稳定性、可靠性及其测量方法

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随着移动通信的不断发展，移动通信天线也经历了从单极化天线、双极化天线到智能天线、MIMO天线乃至大规模阵列天线的发展历程。中国移动经过4G大发展后，目前拥有大约150万个基站，在网天馈质量参差不齐。天线作为移动通信网络的感知器官在网络中的地位越来越复杂，并且越来越重要。虽然天线的投资占比较小（仅占基站投资的3%左右），但是网络故障的40%以上是由天馈系统引起的。天馈系统质量下降会导致覆盖性能变差，或者造成干扰问题，而且天线作为一种复杂的无源产品，其在网络中很难监测。

工程师科普：手机的无源和有源测试

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当前在手机射频性能测试中越来越关注整机辐射性能的测试，这种辐射性能反映了手机的最终发射和接收性能。目前主要有两种方法对手机的辐射性能进行考察：一种是从天线的辐射性能进行判定，是目前较为传统的天线测试方法，称为无源测试；另一种是在特定微波暗室内，测试手机的辐射功率和接收灵敏度，称为有源测试。

实际生活中我们如何测试手机天线

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随着移动通信的飞速发展和应用，中国的手机行业也不断发展壮大，当然中国的手机用户也在迅猛增长。而手机的射频器件中，手机天线是无源器件，手机天线作为手机上面唯一的一个“量身定做”的器件，它的特殊性和重要性必然要求其研发过程对天线性能的测试要求非常严格，这样才能确保手机的正常用。现在就简单的介绍一下手机天线的研发过程中的几种常见的手机天线测试方法

天线近场测量技术探讨

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天线特性参数的测量有多种方法，目前，主要的方法包括三大类：天线的远场测量、天线的紧缩场测量、天线的近场测量。其中，因天线特性主要是定义在天线的远场区故远场测量更为直接准确，而紧缩场测量天线主要是拉近远场所需远场条件：d≥2D2/λ，其通常采用一个抛物面金属反射板，将馈源发送的球面波经反射面反射形成平面波，在一定远距离处形成一个良好的静区。将天线安置在静区内，测量天线的远场特性，其类似于远场测量，只是缩短测量距离，便于在理想远场环境（暗室）下进行测量。

用频谱仪测试天线方法总结

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天线性能的主要参数有方向图、增益、输入阻抗，驻波比，极化方试等，用频谱仪对单收天线主要是对天线水平、俯仰方向的两个方向图测试，根据方向图3dB处的角度，推算出天线增益，包络线法则验证天线的性能。

天线近场测量的综述

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天线工程一问世，天线测量就是人们一直关注的重要课题之一，方法的精确与否直接关系到与之配套系统的实用与否。随着通讯设备不断更新，对天线的要求愈来愈高，常规远场测量天线的方法由于实施中存在着许多困难，有时甚至无能为力，于是人们就渴望通过测量天线的源场而计算出其辐射场的方法。

天线辐射、散射近场测量及近场成像技术的研究进展

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众所周知，在离开被测目标3λ～5λ(λ为工作波长)距离上测量该区域电磁场的技术称为近场测量技术。如果被测目标是辐射器，则称为辐射近场测量;若被测目标是散射体，则称为散射近场测量;对测得散射体的散射近场信息进行反演或逆推就能得到目标的像函数，这就是目标近场成像。

时域技术在天线测量中的应用

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天线测试技术发展到目前，其测量方法已经涉及到频域、时域、空域及数字域。但常用的测量方法仍然以频域为主，而频域测试的指标只是得到该指标对应于频率的综合响应，而无法分析和区分其他因素如接头，传输线，馈电点，测试场环境反射对其影响和干扰程度，也难以去除这些影响测试准确度的干扰。

移动通信基站天线远场测量最小距离准则

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天线方向图远场测量的收发距离在理论上需要达到无穷远，以便发射源天线在被测天线口径上的照射是理想的平面波，也即幅度均匀、相位同相。天线专业的实际应用中，幅度为了满足一定的均匀性(也即锥削度)需要降低源天线的方向性或者增加测量距离;相位为了满足一定的同相要求必需增加测量距离。远场的最小距离准则主要是根据被测天线口径上照射的相位差来确定，对于常规天线，普遍认为口径照射相位差不得大于π/8弧度，根据这一原则，可以推导出收发天线的最小距离准则是R≥2D2/λ。